Просвечивающая электрическая микроскопия проводится на железной пленке, толщина которой не превосходит 0,1 mм. Дисковый способ обширно применяется для подготовки образцов для анализа 1) Диски со стартовой шириной приблизительно 0,5 мм и поперечником 3 мм (зависимо
Записи с меткой ‘электрическая’
Растровая электрическая микроскопия (SEM)
4 сентября, 2014 Pokraskin
Подготовка эталона для SEM не вызывает затруднений, эталон обрезается по определенным размерам (поперечник 10-30 мм), зависимо от устройства крепления эталона. На непроводящие либо плохо проводящие эталоны наносится слой золота, осажденный из паровой фазы. Способ