2 декабря, 2014 
Pokraskin Просвечивающая электрическая микроскопия проводится на железной пленке, толщина которой не превосходит 0,1 mм. Дисковый способ обширно применяется для подготовки образцов для анализа 1) Диски со стартовой шириной приблизительно 0,5 мм и поперечником 3 мм (зависимо от конструкции крепления эталона) уменьшаются электролитическим способом до нужной толщины. (см.Таблицу). Утончение производится относительно просто с помощью обыденного оборудования.
Остальные способы утончения, к примеру, ионное утончение, должны приспособиться для литых алюминиевых сплавов с огромным содержанием легирующих частей.
Состав электролита для утончения алюминия (источник: Heimendahl и Hornbogen и др.)
| Электролит | Состав | Рабочая температура | Ток Напряжение | Комментарий |
| Раствор азотной кислоты | 33 мл HN03 65 мл метанола |
около 4°C (ледяная вода) |
Плотность тока 8-10 В 0,5-1 A/см2 |
Применяется для деформируемых дюралевых сплавов |
| Раствор перхлорной кислоты | 3 мл HCICU 147млC2H5OH (незапятнанная) |
<20°C (tводопроводная прохладная вода) |
Плотность тока 15-20В 0,2 A/см |
Взрывоопасно при температуре выше 25°C, используйте остывание Применяется для деформируемых дюралевых сплавов |
Рядовая просвечивающая электрическая микроскопия позволяет обеспечить повышение в 3000-300000 раз (разрешение > 0.5 nm). Таковой анализ проводится для определения структурных параметров частей размером наименее 1 mм длиной, к примеру, вторичные осаждения (интерметаллические фазы с содержанием Cr, Mn or Zr), которые образуются во время термической обработки. Фазы твердения сплавов AI-Mg-Si, AI-Cu-Mg, AI-Zn-Mg(Cu) и AI-Li-Cu-Mg видны только под электрическом микроскопом. Дислокации изучаются способом просвечивающей электрической микроскопии, этот способ более подходит для исследования деформации, восстановления и рекристаллизации.
Дифракция электронов позволяет найти направления кристаллов и проникающие фазы. Микроскоп может быть обустроен устройством STEM и спектрографом энергетической дисперсии (EDX) для анализа способом TEM микродифракции и EDX размером более 20 nm .
Опубликовано в рубрике 
Метки: 